NanoTestDetail2

Elektrischer/optischer Test

Speziell für die Anforderungen von Bauteilen auf Basis von Silicon Photonics entwickelt, dient NanoTest SiP zur elektrischen und optischen Charaktierisierung auf Wafer-Ebene. Die weiteren NanoTest-Stationen dienen sowohl zum Testen von VCSEL-Wafern als auch zum Charakterisieren von Kantenemittern als Laserbarren oder Einzelbauteil.

 

 

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